Books By Author

Zoradiť podľa:

Filter produktov

Modeling and Simulation of Gate Mislaignment Effect in MOSFETs

Anglický jazyk

Modeling and Simulation of Gate Mislaignment Effect in MOSFETs

Rupendra Kumar Sharma

62.82 € 69.80 € (ušetríte 10%)

Nenašli ste u nás knihu?

Napíšte nám čo hľadáte

Vaša e-mailová adresa

Promotions

Generuje redakčný systém BUXUS CMS spoločnosti ui42.