![CMOS Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications CMOS Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications](/buxus/images/cache/product_image_large/products/xA22529037.jpeg.pagespeed.ic.IwMUyjRAqm.jpg)
-
Anglický jazyk
CMOS Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications
Autor: Alexander A. Demkov
Na objednávku
38.52 €
bežná cena: 42.80 €
O knihe
- Vydavateľstvo: Cambridge University Press
- Rok vydania: 2012
- Formát: Paperback
- Rozmer: 229 x 152 mm
- Jazyk: Anglický jazyk
- ISBN: 9781107408326