-
Taliansky jazyk
Fondamenti e applicazioni della microscopia a forza atomica
Autor: Vanarajsinh Solanki
Questo libro si concentra sul principio di funzionamento dell'AFM, le sue diverse modalità (cioè, contatto, non contatto e tapping), l'analisi di alcuni risultati AFM e anche alcune applicazioni. Questo libro sottolinea anche le caratteristiche dell'AFM... Viac o knihe
Na objednávku
36.99 €
bežná cena: 41.10 €
O knihe
Questo libro si concentra sul principio di funzionamento dell'AFM, le sue diverse modalità (cioè, contatto, non contatto e tapping), l'analisi di alcuni risultati AFM e anche alcune applicazioni. Questo libro sottolinea anche le caratteristiche dell'AFM come strumento morfologico altamente versatile e utile per la scansione di una grande varietà di superfici, con una risoluzione planare che va da nano -metro sclae fino alla scala atomica. Speriamo che questo libro possa essere utile al ricercatore e allo studente per comprendere il concetto di base dell'AFM e per eseguire con esso diversi tipi di campioni.
- Vydavateľstvo: Edizioni Sapienza
- Rok vydania: 2022
- Formát: Paperback
- Rozmer: 220 x 150 mm
- Jazyk: Taliansky jazyk
- ISBN: 9786204698052
Nemecký jazyk 
Anglický jazyk 
