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Indexado de Patrones de Difracción
Autor: Tania Campos
En este trabajo se presenta el modelo diseñado para el análisis de imágenes que contienen patrones de difracción, así como el software desarrollado para efectuar mediciones de ángulos y distancias entre distintos puntos característicos (señales) comprendidos... Viac o knihe
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En este trabajo se presenta el modelo diseñado para el análisis de imágenes que contienen patrones de difracción, así como el software desarrollado para efectuar mediciones de ángulos y distancias entre distintos puntos característicos (señales) comprendidos en los patrones bajo estudio por parte de los investigadores del Centro de Investigación en Materiales Avanzados (CIMAV). La razón principal para elaborar este sistema es que los investigadores deben realizar el proceso de análisis e indexación de patrones de difracción de forma manual, tarea que se torna tediosa y propensa a errores humanos. Es por ello que se diseñó la herramienta para automatizar y asistir en la indexación de patrones en imágenes, facilitando el proceso de detección de señales y logrando con ello una medición más acertada entre los elementos del patrón de difracción analizado.
- Vydavateľstvo: Editorial Académica Española
- Rok vydania: 2020
- Formát: Paperback
- Rozmer: 220 x 150 mm
- Jazyk: Španielsky jazyk
- ISBN: 9786202811460
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