-
Ruský jazyk
Metody powysheniq nadözhnosti mikroshem na osnowe testowyh struktur
Autor: Grigorij Chigir'
V monografii detal'no rassmotrena sistema testowogo kontrolq kachestwa tehnologicheskogo processa izgotowleniq mikroshem, procedura obrabotki dannyh i modelirowaniq wyhoda godnyh kristallow IMS. Osoboe znachenie udeleno metodam ocenki nadezhnosti kristallow... Viac o knihe
Na objednávku
73.17 €
bežná cena: 81.30 €
O knihe
V monografii detal'no rassmotrena sistema testowogo kontrolq kachestwa tehnologicheskogo processa izgotowleniq mikroshem, procedura obrabotki dannyh i modelirowaniq wyhoda godnyh kristallow IMS. Osoboe znachenie udeleno metodam ocenki nadezhnosti kristallow mikroshem w sostawe plastin na ätape tehnologicheskogo processa izgotowleniq IMS, pozwolqüschih optimizirowat' processy i obespechit' wysokij urowen' nadezhnosti korpusirowannyh mikroshem. Priwedeny rezul'taty issledowanij nadözhnosti mnogoslojnyh tonkoplönochnyh sistem metallizacii, konkretnye rezul'taty prakticheskogo primeneniq rqda metodow wyqwleniq i otbrakowki korpusirowannyh mikroshem so skrytymi defektami: analiz dinamicheskogo toka potrebleniq, wozdejstwiq impul'sow staticheskogo älektrichestwa, termociklirowaniq, powyshennogo naprqzheniq pitaniq. Kniga prednaznachena dlq specialistow älektronnoj i radioälektronnoj promyshlennosti, a takzhe studentow i aspirantow wuzow sootwetstwuüschej special'nosti.
- Vydavateľstvo: LAP LAMBERT Academic Publishing
- Rok vydania: 2012
- Formát: Paperback
- Rozmer: 220 x 150 mm
- Jazyk: Ruský jazyk
- ISBN: 9783848431076
Anglický jazyk 
Nemecký jazyk 
