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Metrología Dimensional Aplicada a Superficies Activas en Telescopios
Autor: Nohemí Sánchez Medel
Informe Técnico del año 2017 en eltema Ingeniería - Ingeniería informática, , Idioma: Español, Resumen: El propósito principal de esta memoria es evidenciar la experiencia profesional obtenida en el transcurso de 9 años colaborando como Técnico Metrólogo... Viac o knihe
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Informe Técnico del año 2017 en eltema Ingeniería - Ingeniería informática, , Idioma: Español, Resumen: El propósito principal de esta memoria es evidenciar la experiencia profesional obtenida en el transcurso de 9 años colaborando como Técnico Metrólogo en el Instituto Nacional de Astrofísica Óptica y Electrónica (INAOE). El objetivo principal de la colaboración con el INAOE fue la alineación de la superficie reflectora primaria del Gran Telescopio Milimétrico "Alfonso Serrano" (GTM), mediante una máquina de medición por coordenadas (MMC).
- Vydavateľstvo: GRIN Verlag
- Rok vydania: 2018
- Formát: Paperback
- Rozmer: 210 x 148 mm
- Jazyk: Španielsky jazyk
- ISBN: 9783668715059