• Anglický jazyk

Software Defect and Operational Profile Modeling

Autor: Kai-Yuan Cai

also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1

Viac o knihe

Na objednávku

197.99 €

bežná cena: 219.99 €

O knihe

also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1

  • Vydavateľstvo: Springer US
  • Rok vydania: 1998
  • Formát: Hardback
  • Rozmer: 241 x 160 mm
  • Jazyk: Anglický jazyk
  • ISBN: 9780792382591

Generuje redakčný systém BUXUS CMS spoločnosti ui42.