- Anglický jazyk
Software Defect and Operational Profile Modeling
Autor: Kai-Yuan Cai
also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1
Viac o kniheNa objednávku
197.99 €
bežná cena: 219.99 €
O knihe
also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1
- Vydavateľstvo: Springer US
- Rok vydania: 2012
- Formát: Paperback
- Rozmer: 235 x 155 mm
- Jazyk: Anglický jazyk
- ISBN: 9781461375593