• Anglický jazyk

Software Defect and Operational Profile Modeling

Autor: Kai-Yuan Cai

also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1

Viac o knihe

Na objednávku

197.99 €

bežná cena: 219.99 €

O knihe

also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1

  • Vydavateľstvo: Springer US
  • Rok vydania: 2012
  • Formát: Paperback
  • Rozmer: 235 x 155 mm
  • Jazyk: Anglický jazyk
  • ISBN: 9781461375593

Generuje redakčný systém BUXUS CMS spoločnosti ui42.