-
Ruský jazyk
Vliqnie topografii na analiz obnaruzheniq izmenenij s ispol'zowaniem sputnikowyh dannyh
Autor: D-r Sartadzhwir Singh
Jeta rabota na temu "Topograficheskoe wliqnie analiza obnaruzheniq izmenenij s ispol'zowaniem sputnikowyh dannyh" wklüchaet razlichnye widy korrekcii, takie kak geometricheskaq, atmosfernaq, radiometricheskaq i topograficheskaq, dlq preodoleniq nezhelatel'nogo... Viac o knihe
Na objednávku
22.44 €
bežná cena: 25.50 €
O knihe
Jeta rabota na temu "Topograficheskoe wliqnie analiza obnaruzheniq izmenenij s ispol'zowaniem sputnikowyh dannyh" wklüchaet razlichnye widy korrekcii, takie kak geometricheskaq, atmosfernaq, radiometricheskaq i topograficheskaq, dlq preodoleniq nezhelatel'nogo äffekta ot mnogospektral'nyh sputnikowyh snimkow. V poslednee wremq nablüdaetsq äxponencial'nyj rost ispol'zowaniq mnogospektral'nyh dannyh w razlichnyh prilozheniqh, takih kak monitoring ocenki uscherba, monitoring pochwenno-rastitel'nogo pokrowa (LULC), snezhnyh lawin ili liwnewyh pawodkow i analiz obnaruzheniq izmenenij. Poätomu, prezhde chem pristupit' k dal'nejshemu analizu, neobhodimo wypolnit' predwaritel'nye shagi. Jeta kniga w perwuü ochered' prednaznachena w kachestwe uchebnika dlq issledowatelej w oblasti obrabotki sputnikowyh izobrazhenij, distancionnogo zondirowaniq, analiza obnaruzheniq izmenenij, topograficheskih poprawok. Razlichnye metody topograficheskoj korrekcii srawniwaütsq, a zatem podhodqschij metod topograficheskoj korrekcii dlq snezhnogo pokrowa Gimalaew primenqetsq dlq analiza obnaruzheniq izmenenij. Krome togo, ätot process byl primenen dlq dannyh dwuh sensornyh sputnikow (AWiFS i MODIS).
- Vydavateľstvo: Sciencia Scripts
- Rok vydania: 2023
- Formát: Paperback
- Rozmer: 220 x 150 mm
- Jazyk: Ruský jazyk
- ISBN: 9786205687086
Anglický jazyk 
Nemecký jazyk 