Yapisal Kod Klon Analizinde Metrik Kullanimi

Turecký jazyk

Yapisal Kod Klon Analizinde Metrik Kullanimi

Vydavateľstvo: LAP LAMBERT Academic Publishing
Rok vydania: 2017
Formát: Paperback
Rozmer: 220 x 150 mm
Jazyk: Turecký jazyk
ISBN: 9783330085350

Na objednávku

46.17 €

bežná cena: 51.30 €

O knihe

Gereksiz tekrarlanmis kodlar (klonlar) iyi dokümante edilmemis ve bakimi zor olan kodlardir. Bu tip kodlarda, tespit edilen bir hatanin tüm tekrarlarda düzeltilmesi gerekir. Bu durum yazilim bakim maliyetlerini önemli ölçüde artirdigi gibi kodlarin okunabilirligi ve anlasilabilirligi için daha fazla çaba sarf edilmesini de gerektirir. Günümüz literatüründe kod klon problemlerini azaltmak ya da engellemek için birçok teknik önerilmistir. Bu tekniklerin odaginda basit klon ve yapisal klon kod tespiti yer almaktadir. Klon kod'lar iki ana baslik altinda incelenmektedir. Yazilim içerisinde kod parçaciginin benzerliginden kaynaklanan kod tekrarlamalarina basit klon adi verilirken, sistem mimarisi içerisinde, ayni yapi ile insa edilmis kodlara yapisal klon denmektedir. Basit klon tespit teknikleri, tekrarlanan kod parçaciklarina genis bir açidan bakamadiklari için, tasarim seviyesindeki olasi tekrarlamalardan kaynaklanan yapisal kod klonlarini saptayamamaktadir. Buradaki eksikligi gidermeyi amaçlayan yapisal klon tespitleri ise, yazilimdaki üst seviye benzerliklerinin ortaya çikartilmasi, yeniden kullanilabilirligin artirilmasidir.