Caracterización por rayos X de cristales de diamante sintético HPHT de baja tensión

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Caracterización por rayos X de cristales de diamante sintético HPHT de baja tensión

Vydavateľstvo: Ediciones Nuestro Conocimiento
Rok vydania: 2022
Formát: Paperback
Rozmer: 220 x 150 mm
Jazyk: Španielsky jazyk
ISBN: 9786205139387

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O knihe

Este estudio utiliza experimentos de caracterización de rayos X para comprender los problemas de la ciencia de los materiales en los extremos actuales de alta pureza y baja deformación en el diamante sintético de tipo IIa HPHT. Este tipo de diamante tiene impurezas por debajo de 10ppb y grandes áreas en las que la desorientación efectiva (la desviación del ángulo local de Bragg en las partes deformadas del cristal con respecto al de la región perfecta) de la red es del orden de 10-8. El primer objetivo era, por tanto, caracterizar los diamantes sintéticos de tipo IIa HPHT en este límite de alta pureza y baja deformación, y comprender la naturaleza de los defectos y su contribución a las deformaciones de largo alcance. Se ha visto que se trata de una tarea no trivial, y que requerirá el despliegue de técnicas de rayos X que son extremadamente sensibles. Esta investigación ofrece una oportunidad única para comprender la ciencia de los materiales del diamante en el ámbito de los cristales de baja deformación. Se prevé que la simplicidad esencial de los defectos y la pureza del material permitirán la realización de experimentos reproducibles y susceptibles de interpretación teórica. Este ha sido durante mucho tiempo un objetivo de la física del diamante.