![CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications](/buxus/images/cache/product_image_large/products/A19645103.jpeg)
-
Anglický jazyk
CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications
Autor: Alexander A. Demkov
Na objednávku, dodanie 2-4 týždne
137.88 €
bežná cena: 153.20 €
O knihe
- Vydavateľstvo: Cambridge University Press
- Rok vydania: 2016
- Formát: Hardback
- Rozmer: 235 x 157 mm
- Jazyk: Anglický jazyk
- ISBN: 9781605111285