-
Ruský jazyk
Indexirowanie difrakcionnyh modelej
Autor: Tanq Kampos
V dannoj rabote predstawlena model', prednaznachennaq dlq analiza izobrazhenij, soderzhaschih difrakcionnye kartiny, a takzhe programmnoe obespechenie, razrabotannoe dlq prowedeniq izmerenij uglow i rasstoqnij mezhdu razlichnymi harakternymi tochkami (signalami),... Viac o knihe
Na objednávku, dodanie 2-4 týždne
38.79 €
bežná cena: 43.10 €
O knihe
V dannoj rabote predstawlena model', prednaznachennaq dlq analiza izobrazhenij, soderzhaschih difrakcionnye kartiny, a takzhe programmnoe obespechenie, razrabotannoe dlq prowedeniq izmerenij uglow i rasstoqnij mezhdu razlichnymi harakternymi tochkami (signalami), wklüchennymi w izuchaemye kartiny issledowatelqmi Centra po issledowaniü perspektiwnyh materialow (CIMAV). Osnownaq prichina razrabotki ätoj sistemy zaklüchaetsq w tom, chto issledowateli dolzhny wypolnqt' process analiza i indexacii difrakcionnyh patternow wruchnuü - zadacha, kotoraq stanowitsq utomitel'noj i sklonnoj k chelowecheskim oshibkam. Imenno poätomu instrument byl razrabotan dlq awtomatizacii i pomoschi w indexirowanii shablonow na izobrazheniqh, oblegchaq process obnaruzheniq signalow i, takim obrazom, dostigaq bolee tochnogo izmereniq mezhdu älementami analiziruemoj difrakcionnoj kartiny.
- Vydavateľstvo: Sciencia Scripts
- Rok vydania: 2020
- Formát: Paperback
- Rozmer: 220 x 150 mm
- Jazyk: Ruský jazyk
- ISBN: 9786202991704
Nemecký jazyk 
Anglický jazyk 
