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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Autor: Andrew Thye Shen Wee
Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen... Viac o knihe
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Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.
- Vydavateľstvo: Wiley-VCH
- Rok vydania: 2022
- Formát: Paperback
- Rozmer: 244 x 170 mm
- Jazyk: Anglický jazyk
- ISBN: 9783527349517
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