- Nemecký jazyk
Oberflächenanalytische Charakterisierung von metallischen Verunreinigungen und Oxiden auf GaAs
Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es möglich macht, Oberflächenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen.
Viac o kniheNa objednávku, dodanie 2-4 týždne
46.22 €
bežná cena: 51.35 €
O knihe
Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es möglich macht, Oberflächenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen.
- Vydavateľstvo: Deutscher Universitätsverlag
- Rok vydania: 1997
- Formát: Paperback
- Rozmer: 210 x 148 mm
- Jazyk: Nemecký jazyk
- ISBN: 9783824420919