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Nemecký jazyk
Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Autor: Peter Baumann
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum Im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version... Viac o knihe
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Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum Im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperr- Schicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Im abschließenden neuen Kapitel wird die Ermittlung der Modell- Parameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert behandelt.
- Vydavateľstvo: Springer Fachmedien Wiesbaden
- Rok vydania: 2023
- Formát: Paperback
- Rozmer: 240 x 168 mm
- Jazyk: Nemecký jazyk
- ISBN: 9783658409562
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