• Anglický jazyk

Physical Measurement and Analysis of Thin Films

Autor: E. M. Murt

Na objednávku, dodanie 2-4 týždne

49.49 €

bežná cena: 54.99 €

O knihe

  • Vydavateľstvo: Springer US
  • Rok vydania: 2013
  • Formát: Paperback
  • Rozmer: 229 x 152 mm
  • Jazyk: Anglický jazyk
  • ISBN: 9781489959126

Generuje redakčný systém BUXUS CMS spoločnosti ui42.