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Un bist lógico fiable con enfoque escalable
Autor: Aradhyula Raghavaraju
Proponemos un novedoso enfoque escalable para reducir la PD durante la prueba a velocidad de circuitos secuenciales con LBIST basado en escaneo utilizando el esquema de lanzamiento en captura. Esto se consigue reduciendo el factor de actividad del CUT, mediante... Viac o knihe
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Proponemos un novedoso enfoque escalable para reducir la PD durante la prueba a velocidad de circuitos secuenciales con LBIST basado en escaneo utilizando el esquema de lanzamiento en captura. Esto se consigue reduciendo el factor de actividad del CUT, mediante la modificación adecuada de los vectores de prueba generados por el LBIST de circuitos integrados secuenciales. La generación de un droop de potencia (PD) significativo durante la prueba a velocidad realizada por Logic Built-In Self Test (LBIST) es una seria preocupación para los circuitos integrados modernos.
- Vydavateľstvo: Ediciones Nuestro Conocimiento
- Rok vydania: 2023
- Formát: Paperback
- Rozmer: 220 x 150 mm
- Jazyk: Španielsky jazyk
- ISBN: 9786205684634
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